在光互連技術(shù)飛速發(fā)展的今天,光電路板(Optical Printed Circuit Board, OPCB)作為實(shí)現(xiàn)板級(jí)光互連的核心載體,其性能評(píng)測(cè)的準(zhǔn)確性直接關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)的傳輸質(zhì)量。然而,許多工程師在OPCB的插入損耗、均勻性等關(guān)鍵參數(shù)測(cè)試中,常常面臨一個(gè)棘手的難題:測(cè)量結(jié)果中出現(xiàn)莫名的波動(dòng)或紋波,導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真、重復(fù)性差。這背后的元兇,往往是傳統(tǒng)光源的強(qiáng)相干性所帶來(lái)的干涉噪聲。
現(xiàn)在,synos(シナジーオプトシステムズ)推出的LSS002/850 850nm高輸出SLD光源,以其獨(dú)特的寬譜、低相干、高功率特性,為OPCB的精準(zhǔn)評(píng)測(cè)提供了一個(gè)“所見(jiàn)即所得"的理想解決方案。
OPCB內(nèi)部包含復(fù)雜的聚合物光波導(dǎo)、耦合器及多個(gè)連接界面。當(dāng)使用相干性高的激光二極管(LD)作為測(cè)試光源時(shí),光線在這些多路徑結(jié)構(gòu)中傳輸,容易產(chǎn)生自干涉效應(yīng),形成所謂的“散斑"或干涉紋波。
這些噪聲信號(hào)會(huì)疊加在真實(shí)的損耗曲線上,使工程師難以判斷:眼前的波動(dòng),到底是波導(dǎo)本身的工藝缺陷,還是光源帶來(lái)的虛假信號(hào)?
LSS002/850給出了答案。 其核心是一顆超輻射發(fā)光二極管(SLD),它兼具了LED的寬譜特性(典型值30nm,F(xiàn)WHM)和LD的高輸出特性。30nm的半高全寬意味著極低的相干性,能夠有效抑制多光束干涉。用它測(cè)量OPCB,你得到的不再是布滿噪聲的起伏曲線,而是真實(shí)、平滑、反映器件本征特性的損耗數(shù)據(jù)——這才是真正的“所見(jiàn)即所得"。
抑制了干涉噪聲,還需要足夠強(qiáng)的信號(hào)來(lái)穿透OPCB的復(fù)雜光路。
LSS002/850在保持低相干性的同時(shí),提供了高達(dá)約2mW的輸出功率(APC-SM光纖輸出端)。這一特性在測(cè)量長(zhǎng)距離或高密度集成的光波導(dǎo)時(shí)尤為重要。足夠的光功率保證了接收端具有出色的信噪比(SNR)和動(dòng)態(tài)范圍,即使是微小的損耗變化也能被清晰捕獲,讓“精準(zhǔn)評(píng)測(cè)"不止停留在口號(hào)上,而是落實(shí)在每一組數(shù)據(jù)中。
對(duì)于研發(fā)階段的反復(fù)驗(yàn)證,或是量產(chǎn)線上的批量測(cè)試,光源的長(zhǎng)期穩(wěn)定性是保證數(shù)據(jù)一致性和重復(fù)性的基石。
LSS002/850內(nèi)置了精密的自動(dòng)功率控制(APC) 和自動(dòng)溫度控制(ATC) 電路。根據(jù)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),在開(kāi)機(jī)老化1小時(shí)后,其輸出功率在1小時(shí)內(nèi)的變化小于0.5%,12小時(shí)內(nèi)的變化小于2%。這意味著,無(wú)論是進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的老化實(shí)驗(yàn),還是跨批次的產(chǎn)品抽檢,LSS002/850都能為你提供一個(gè)恒定、可靠的參考基準(zhǔn),有效避免因光源漂移導(dǎo)致的誤判。
憑借上述特性,LSS002/850在多個(gè)高精度測(cè)量領(lǐng)域展現(xiàn)出卓1越價(jià)值:
光電路板(OPCB)插入損耗測(cè)試:真實(shí)反映光路損耗,無(wú)干涉噪聲干擾。
聚合物光波導(dǎo)評(píng)估:寬光譜平滑特性,便于評(píng)估波導(dǎo)的傳輸均勻性和帶寬性能。
多模光纖及無(wú)源器件測(cè)試:作為穩(wěn)定的寬譜光源,適用于耦合器、分路器、光開(kāi)關(guān)等器件的插入損耗和回波損耗測(cè)量。
近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)光斑分析:低相干性確保光斑分布圖像清晰、無(wú)散斑,有助于精準(zhǔn)分析出光特性。
在追求高速、高可靠性的光互連時(shí)代,測(cè)試工具的精度決定了研發(fā)的效率和產(chǎn)品的質(zhì)量。synos LSS002/850 SLD光源,憑借其寬譜低相干、高功率輸出、超1強(qiáng)穩(wěn)定性的三重優(yōu)勢(shì),不僅解決了傳統(tǒng)測(cè)試中的干涉噪聲痛點(diǎn),更為OPCB等精密光器件的評(píng)測(cè)樹(shù)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。